专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]汽车刹车油门踏板检测机的踏板干涉检测装置-CN201520441208.7有效
  • 施建兰 - 苏州石丸英合精密机械有限公司
  • 2015-06-25 - 2015-10-21 - G01B21/16
  • 本实用新型公开了一种汽车刹车油门踏板检测机的踏板干涉检测装置,包括干涉检测下底板通过两根干涉检测支撑柱连接到干涉检测上底板下平面,干涉检测上底板上平面设有两根相互平行的干涉检测移位滑轨,干涉检测移位滑轨上设有两个干涉检测移位滑块,干涉检测移位滑块上设有干涉检测移位板垫高块,干涉检测移位板垫高块连接到干涉检测移位板,干涉检测移位板连接着干涉检测移位气缸的活塞杆,干涉检测移位气缸通过干涉检测移位气缸安装座固定于干涉检测上底板,干涉检测移位缓冲器通过干涉检测移位缓冲器座安装于干涉检测上底板右侧,干涉检测移位板左侧安装有干涉距离测量机构。通过上述方式,本实用新型能够检测刹车踏板和油门踏板之间的干涉间距。
  • 汽车刹车油门踏板检测干涉装置
  • [实用新型]便于输出和释放干涉力的枢轴结构-CN202122393203.X有效
  • 王春鹏 - 新连刚电子科技(重庆)有限公司
  • 2021-09-30 - 2022-04-05 - F16C11/10
  • 本实用新型公开了便于输出和释放干涉力的枢轴结构,包括第一枢轴、与第一枢轴平行设置的第二枢轴、连动连接组件、干涉组件、扭力组件及螺帽组件;第一枢轴具有第一轴干涉段和第一轴扭力段,第二枢轴具有第二轴干涉段和第二轴扭力段;干涉组件包括若干个干涉板,干涉板上端部具有第一轴干涉包夹孔,干涉板下端部具有第二轴干涉包夹孔,第一轴干涉段和第二轴干涉段的两侧均具有枢轴干涉平面,第一轴干涉包夹孔和第二轴干涉包夹孔内表面均具有干涉包夹平面本实用新型中,干涉板具有便于输出和释放干涉力的能力,如此,既能保证为第一枢轴和第二枢轴提供足够的干涉力,又可提高自身的使用寿命。
  • 便于输出释放干涉枢轴结构
  • [发明专利]校正白光相移干涉仪中的条纹级次的误差的方法-CN201610179390.2有效
  • 玄昌洪;金星龙;朴喜载 - SNU精密股份有限公司
  • 2016-03-25 - 2019-04-19 - G01B9/02
  • 公开了一种校正白光相移干涉仪中的条纹级次的误差的方法,所述方法包括:获取干涉信号,确定位置索引,计算真实位置。在获取干涉信号的操作中,通过彩色照相机在红色干涉信号、绿色干涉信号和蓝色干涉信号中获取至少两个彩色干涉信号。在确定索引位置的操作中,具有至少两个彩色干涉信号之间最小相位差的位置被确定为零级干涉信号的位置索引。在计算真实位置的操作中,通过在位置中设置与所述零级干涉信号的位置索引相对应的位置来计算光具有最大强度的零级干涉信号真实位置,作为零级干涉信号测量位置,其中在通过黑白照相机获取的黑白干涉信号中测量干涉信号,以及在零级干涉信号测量位置增加或减少零级干涉信号测量位置的相位值。
  • 校正白光相移干涉仪中的条纹级次误差方法
  • [实用新型]干涉装置以及枢纽器-CN201020197820.1无效
  • 刘家宏 - 苏州达方电子有限公司;达方电子股份有限公司
  • 2010-05-09 - 2011-02-23 - F16C11/10
  • 本实用新型揭露一种干涉装置,用于枢纽器,其中该枢纽器具有枢轴。该干涉装置包含第一干涉组件以及第二干涉组件分别套设于该枢轴。该第一干涉组件具有一对第一干涉结构对称于该枢轴以及至少一第三干涉结构不对称于该枢轴,并且该第二干涉组件具有一对第二干涉结构对称于该枢轴以及至少一第四干涉结构不对称于该枢轴,其中该至少一第四干涉结构系与该至少一第三干涉结构呈相对配置本实用新型的枢纽器藉由第一干涉结构、第二干涉结构、第三干涉结构以及第四干涉结构,可避免可携带式电子装置的本体与显示面板容易维持于使用者不顺手的角度的状况发生。
  • 干涉装置以及枢纽
  • [发明专利]干涉测量方法、干涉测量装置以及干涉测量系统-CN202210913106.5在审
  • 路伟涛;任天鹏;陈略 - 北京航天飞行控制中心
  • 2022-07-29 - 2022-11-08 - G01S3/46
  • 本申请提供了一种干涉测量方法、干涉测量装置以及干涉测量系统,该方法包括:接收多个第一估计数据以及多个第二估计数据,第一估计数据为第一测站对第一测试数据进行频率估计和相位估计得到的,第二估计数据为第二测站对第二测试数据进行频率估计和相位估计得到的第二测试数据为第二测站对目标探测器的观测数据;获取初始理论时延,初始理论时延为第一个采集时刻的理论时延,理论时延为理论上第一测站相对于第二测站的传输时延;根据各第一估计数据、各第二估计数据以及初始理论时延,确定第一测站和第二测站的干涉测量时延观测量本申请解决了干涉测量中数据传输对通信链路带宽要求高的问题。
  • 干涉测量方法测量装置以及系统
  • [发明专利]干涉系统的测量方法-CN201010134521.8有效
  • 张维哲;廖界程 - 致茂电子(苏州)有限公司
  • 2010-03-16 - 2011-09-21 - G01B9/02
  • 本发明有关于一种干涉系统的测量方法用以于干涉系统对待测物进行垂直扫描,并在多个扫描高度依序分别产生多张干涉影像后,利用这些干涉影像产生二维形貌图像,该方法包括以下步骤:对各干涉影像中的每一个像素点取样,以得到干涉影像中的干涉区域面积,并利用干涉影像所对应的扫描高度与干涉区域面积建立高度-干涉面积对应比信息;在这些干涉影像所对应的干涉区域面积中撷取相对峰值,并将相对峰值所对应的扫描高度定义为特征高度;以及撷取特征高度与上下各一第一预定张数的干涉影像进行叠加,以产生不含有干涉现象的待测物的二维形貌图像。
  • 干涉系统测量方法

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